SERVER系列
PC系列
LR-LINK注重人才的自主培养，形成在内部竞聘和培养文化，并希望为员工提供最好的学习和持续发展的环境。也许，你是久经职场的精英；亦或，你是初出茅庐的菜鸟；不过没关系，只要你确实有料，同时有实现自我价值的激情，请留下你的简历，和我们一起锐意开拓，引领创新。
针对SSD研发与量产中的核心测试需求，联瑞电子提供基于PCIe Switch卡、PCIe Retimer卡及NVMe扩展卡的完整硬件支撑方案，覆盖从性能验证到可靠性评估的全流程。
满盘状态下Gen5 NVMe固定读写性能、压力与稳定性测试等关键场景，确保SSD在高负载下的卓越表现。
验证SSD老化、高低温循环老化测试以及读写掉电等极端场景，保障产品长期稳定运行。
从Gen3到Gen5，从Switch到Retimer，灵活适配各类SSD测试场景
基于LRSV9500-4I扩展卡，搭配MCIO 8i/4i线缆，实现Gen5 NVMe SSD的高密度测试扩展，满足最新一代PCIe 5.0 SSD的性能与可靠性测试需求。
支持热插拔与高低温循环老化测试
同时支持8x Gen5/Gen4 NVMe，满足大规模并发测试
基于LRSV9560-2I Retimer扩展卡，原生支持PCIe信号完整性，确保长距离传输下的信号质量，是高端测试环境的理想选择。
原生支持PCIe信号，长距离传输不衰减
全系Gen5/Gen4 Retimer方案可选，保护投资
LRNV9F48扩展卡提供灵活的多接口配置，支持8654 8i/4i及M.2接口，适配不同形态的NVMe SSD测试需求，最高支持8盘位扩展。
8654 8i/4i与M.2三种接口灵活适配
支持SSD老化、高低温循环及读写掉电测试
LRNV9F96-10I专为大规模SSD可靠性测试而设计，单卡支持20块U.2 NVMe SSD，极大提升测试效率与机柜空间利用率。
单卡支持20块U.2 NVMe SSD并行测试
专为老化测试、高低温循环与掉电测试优化
LRNV9349以极高性价比满足Gen3/Gen4/Gen5 SSD的可靠性测试需求，8x M.2 NVMe扩展位适合中小规模测试场景，有效控制测试成本。
降低测试成本，适合中小规模测试产线
兼容Gen3/Gen4/Gen5 SSD老化测试功能
根据测试需求与预算，快速定位最适合的扩展方案
| 方案 | 代际 | 架构 | 扩展数量 | 接口类型 | 适用场景 |
|---|---|---|---|---|---|
| LRSV9500-4I | Gen5 | Switch | 4-8盘位 | MCIO 8i/4i | Gen5 NVMe性能与可靠性测试 |
| LRSV9560-2I | Gen5 | Retimer | 4盘位 | MCIO 8i | 信号完整性要求高的测试场景 |
| LRNV9F48 | Gen4 | Switch | 4-8盘位 | 8654 8i/4i, M.2 | 多接口灵活适配测试 |
| LRNV9F96-10I | Gen4 | Switch | 20盘位 | 8654 8i转8639 | 大规模RDT/老化测试 |
| LRNV9349 | Gen3 | Switch | 8盘位 | M.2 | 高性价比可靠性测试 |
填写以下信息，我们的技术团队将尽快与您联系，安排产品借测与方案定制
研发中心地址:深圳市龙岗区龙城街道远洋新天地T10栋14楼
制造中心地址:深圳市龙岗区龙岗街道新生绿谷1B栋9-11楼
邮 箱: info@lr-link.com
技术支持: 19924451883
产品咨询
技术支持
服务电话服务热线：
4000-588-108
